CEB系列半微量电子分析天平

CEB系列半微量电子分析天平是精确、稳定、多功能与自动化一体的先进电子分析天平，为了满足实验室称量要求分度值达到十万分之一而设计，内置电磁力传感器，在保证产品高精度的基础上，同时还拥有精致外观。为了保证高性能称量单元的灵敏度，分析天平采用可伸拉式操作显示终端，避免用户在操作时对天平造成冲击和震动。

产品特点：

1、分体式结构设计，可拉伸式操作显示终端，减缓操作过程中产生的震动影响测量准确性。
2、特制304不锈钢秤量盘与防风圈设计，避免气流影响称重，保证称量稳定性。
3、全铝合金机身与底座，保证天平稳定性。
4、触摸感应式按键与高清VA液晶屏幕组合，操作省力、读数便捷。
5、高稳定电磁力传感器，称量快速，读数准确。
6、双量程可切换，外校内校款可选。
7、密度测量功能、移液器校准功能，多种称量模式可选，一机多用，功能强大。
8、多种单位可切换，积分时间、灵敏度可调，时间设置，满足客户个性化需求。

技术参数：